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1.试验目的标准试验目的备注JESD22-A108F-2017确定偏置条件和温度对于固态器件随时间的影响。试验可以加速地模拟器件的运行状态,主要用于器件的可靠性测试。本实验在较短时间内对器件施加高温偏置,通常也被称为老化或老炼。,这些器件随着时间和应力变化而产生的失效。GJB548B-2015方法,这些器件随着时间和应力变化而产生的失效。AEC-Q100参照JESD220-A108F-2017————————————————版权声明:本文为CSDN博主「月丶匈」的原创文章,遵循,转载请附上原文出处链接及本声明。原文链接:。 崇明区智能HTOL测试机上海顶策科技有限公司智能HTOL测试机TH801有全程数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心。
进一步的,对所述闪存参考单元进行编译,包括:在所述源极上施加***编程电压,在所述漏极上施加第二编程电压,在所述控制栅上施加第三编程电压,在所述衬底上施加第四编程电压;其中,所述***编程电压小于所述第二编程电压;所述第二编程电压小于所述第三编程电压。进一步的,所述***编程电压的范围为~0v,所述第二编程电压的范围为~,所述第三编程电压的范围为8v~10v,所述第四编程电压的范围为~-1v。进一步的,编译过程中的脉冲宽度为100μs~150μs。进一步的,对所述闪存参考单元进行擦除,包括:将所述源极和漏极均悬空,在所述控制栅上施加***擦除电压,在所述衬底上施加第二擦除电压;其中,所述***擦除电压为负电压,所述第二擦除电压为正电压。进一步的,所述***擦除电压的范围为-10v~-8v,所述第二擦除电压的范围为8v~10v。进一步的,擦除过程中的脉冲宽度为10ms~20ms。进一步的,对所述闪存参考单元进行编译和擦除,循环次数为10次~20次。进一步的,对所述闪存进行htol测试包括:对所述闪存依次进行***时间点读点、第二时间点读点、第三时间点读点至第n时间点读点。
芯片HTOL测试一条龙服务,可靠性设备,HTOL/LTOL、双85、HAST等几十项可靠性测试方案制定,PCB设计制作,测试试验,满足各类芯片可靠性测试需求。涵盖模拟,数字,混合信号,SOC,RF等各类芯片的可靠性方案设计,原理图设计,PCBlayout加工制作,老化程序开发调试,可靠性测试试验,出具可靠性报告,上海顶策科技有限公司提供高质量、高效率、低成本HTOL测试方案。自主研发在线实时单颗监测技术,大幅度提高HTOL效率,节省更多时间、FA成本,全程数据记录,让HTOL问题更容易分析,更有追溯性,有全程HTOL数据记录,让报告更有说服力,下游客户更放心。TH801智能老化系统,自有发明专利智能实时在线监测技术。
HTOL的注意要点高温工作寿命的测试条件主要遵循JESD22-A108进行,除了给器件合适的偏置与负载外,主要包括温度应力和电压应力,这两者都属于加速因子。合理设置温度应力和电压应力,以便在合理的时间和成本下完成寿命评估。对于硅基产品,温度应力一般设置在结温>=125℃,GaAs等其它耐高温材料则可以设置更高的温度,具体根据加速要求而定。但无论哪种材料,均需要结温小于材料的极限工作温度或者热关断(thermalshutdown)温度。HTOL硬件的散热设计有利于加速因子的提高,这样可以节省试验时间。电压应力一般采用最高工作电压进行,如果需要提高加速度,则可以采用更高的电压进行试验,但是无论电压应力还是温度应力都不允许器件处于过电应力的状态。 上海顶策科技有限公司智能一体化HTOL测试机TH801通过监测数据,可实时发现问题并介入分析,大幅提高效率。江苏国内HTOL测试机
TH801智能老化系统,监测数据异常自动报警,实时发现问题并介入分析,可以整体降低30~50%的成本。浦东新区HTOL测试机设计
上海顶策科技有限公司(Topictest)推出的TH801,智能在线监控动态老化设备,可以监控的参数除了整板的电压,电流,还可以根据需求,监控到老化中每颗芯片的电压、电流,寄存器数据,时间,频率等诸多参数,并实时记录保存成Excel文档。这样不仅可以确保每颗芯片都处于正常的老化状态,保证老化测试的质量,同时还可以清楚地知道具体失效的参数,以及在什么时间点失效等诸多信息,非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以监控更多芯片参数,这使得免除ATE回测成为可能,这将大幅度提高老化测试效率,节省更多人力成本!这项技术目前已在对芯片质量要求较高的芯片设计公司广泛应用。浦东新区HTOL测试机设计
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